トランザクショナルメモリにおける競合誤検出の影響調査とその改善手法

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二間瀬 悠希, 林 昌樹, 多治見 知紀, 塩谷 亮太, 五島 正裕, 津邑 公暁 : "トランザクショナルメモリにおける競合誤検出の影響調査とその改善手法", 情処研報 (HotSPA2018) ,pp1--7 (Jun. 2018) 予稿


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